

開発の背景
狭い間隔で並んだ対象物を、一度に測定できる測定器ができないか?そんなお客様のご要望から開発いたしました。
1つの光源を分岐させ、複数箇所を測定し、1つの受光部を用いて測定する手法もあります。しかし当社では、3つの光源と3つの受光部を搭載した製品を開発いたしました。これにより受光部でスポットが重なり誤差要因となる現象が起こらない製品を開発いたしました。
特長
1. 3カ所同時測定
2. 3つのセンサが独立、測定誤差や検出エラーがない
3. センサとプロセッサ一体型
製品情報
項目 | トリプルチルトセンサ |
測定方式 | 光学オートコリメータ |
測定対象物 | 光学平面 |
ワーキングディスタンス | 50mm |
測定範囲 | ±1.5度 |
出力更新レート | 500回/秒 |
※特注品例につき仕様の詳細は変更される場合があります。